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簡析GIS局部放電檢測方法(二)
點擊次數(shù):3717 更新時間:2017-11-15

上一篇博文我們介紹了GIS設(shè)備局部放電的兩種方法--脈沖電流法,超高頻法。今天我們接著來介紹一下另外幾種檢測GIS局部放電的方法。

 

1.3 超聲波檢測

GIS設(shè)備局部放電的超聲波檢測法是利用安裝在GIS外殼上的超聲波傳感器接收局部放電產(chǎn)生的振動信號以達到檢測內(nèi)部局部放電的目的。在GIS中,除局部放電產(chǎn)生的聲波外,還有微粒碰撞絕緣子或外殼、電磁振動、操作引起的機械振動等也會發(fā)出的聲波。氣體和液體中只傳播縱波,固體中傳播的聲波除縱波外還有橫波。故在GIS中沿SF6氣體傳播的聲波和在變壓器油中一樣只有縱波,但其傳播速度很慢,要比油中低10倍,衰減也大,且隨頻率的增加而增大。測量超聲波信號的傳感器主要有加速度和聲發(fā)射兩種。當(dāng)采用加速度傳感器時,要采用高通濾波器以消除較低頻率的背景干擾;聲發(fā)射傳感器的原理是利用諧振方式,其頻率特性中己經(jīng)包含了高通特性,因此無需另外附加相應(yīng)的濾波器件。

 

由于聲音的傳播速度比電磁波慢很多,時間差更容易進行測量,定位更加準(zhǔn)確,并且定位后還可通過敲擊GIS外殼的方法進行驗證,所以在放電定位方面,聲學(xué)檢測法比電學(xué)的方法更*,加之超聲波傳感器與GIS設(shè)備的電氣回路之間無任何,抗電磁干擾性較好,因此人們對超聲法的研究較為深入,技術(shù)手段較為成熟。但是超聲波檢測法的靈敏度不僅取決于局部放電的能量,而且取決于超聲波信號在傳播路徑上的衰減,在大多數(shù)情況下,超聲傳感器的靈敏度不是很高。近年來,由于聲一電換能器效率的提高和電子放大技術(shù)的發(fā)展,超聲波檢測法的靈敏度有了較大的提高,但是超聲傳感器的有效檢測范圍仍然較小,完成一個較大規(guī)模GIS變電站的檢測通常需要數(shù)天的時間,檢測效率不高。

 

1.4 光學(xué)檢測法

GIS設(shè)備的局部放電是在電場強度較為集中的位置使SF6分子發(fā)生游離,游離后的離子又會復(fù)合,復(fù)合會以光子的形式釋放能量。根據(jù)氣體放電理論,在此過程中離子的復(fù)合會激發(fā)出不同頻率的光譜成分。因此,可以通過安裝在GIS內(nèi)部的光電倍增管、光電二極管或光電三極管等光傳感器件進行局部放電產(chǎn)生的光現(xiàn)象的測量來實現(xiàn)GIS局部放電的檢測。但是由于局部放電點無法確定,加上現(xiàn)場GIS內(nèi)部結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜,局部放電產(chǎn)生的光信號可能會經(jīng)過多重折反射才能到達光傳感器件,這就需要選擇透光性能良好的觀測窗口和合理的測量位置。

 

從理論上來說光學(xué)檢測法的靈敏度應(yīng)該非常高,但是由于局部放電產(chǎn)生的光輻射的頻譜主要集中在紫外波段,可能會被SF6氣體、絕緣支撐件等氣體和固體吸收,加之GIS設(shè)備光滑的內(nèi)壁所引起的反射也會給測量帶來不良影響,且會有“死角”的出現(xiàn),這使得光學(xué)測量法在實驗室內(nèi)對一個已知的放電點來說是一個強有力的檢測工具,但要檢測一個可能在GIS設(shè)備內(nèi)任意地方出現(xiàn)的局部放電是有困難的。另外,實際GIS設(shè)備因有許多氣室,所以需要大量光傳感器,檢測的成本較高,因此光學(xué)檢測法不適合對GIS設(shè)備進行局部放電的現(xiàn)場檢測。

 

1.5 SF6氣體分解產(chǎn)物檢測法

國內(nèi)外大量研究表明,當(dāng)SF6設(shè)備中發(fā)生絕緣故障時,放電產(chǎn)生的高溫電弧使SF6氣體發(fā)生分解反應(yīng),生成SF4, SF3, SF2和S2F10等多種低氟硫化物。如果是純凈的SF6氣體,上述分解物將隨著溫度降低會很快復(fù)合、還原為SF6氣體;如果SFs氣體不純凈,由于上述分解生成的多種低氟硫化物很活潑,容易與SFs氣體中的微量水分和氧氣發(fā)生一系列的化學(xué)反應(yīng),SFs氣體分解的原理示意圖如圖所示。

 

SF6氣體分解原理圖

            SF6氣體分解原理示意圖

 

 

由于SF6分解物與水分結(jié)合生成的HF和H2SO3, SO2等化合物,均對設(shè)備內(nèi)其他絕緣及金屬材料有強腐蝕作用,進而加速絕緣劣化,zui終導(dǎo)致設(shè)備發(fā)生絕緣故障。引起SF6氣體分解的主要原因有:局部放電、火花放電和電弧放電等?;鸹ǚ烹姾碗娀》烹娭饕l(fā)生在斷路器的滅弧室,由于GIS中斷路器部分的滅弧室是單獨的氣室,因此內(nèi)部絕緣缺陷引起局部放電產(chǎn)生的分解氣體組分和因斷路器正常開斷產(chǎn)生的分解氣體組分是相互獨立的。由局部放電引起SF6氣體分解產(chǎn)生的化合氣體主要有SOF2, SOF4, S2F10,S02F2, CF4, SO2, SiF4,HF, CO, CO2, CH4, SF4等。初步研究表明:不同絕緣缺陷引起的局部放電會產(chǎn)生不同的分解化合氣體,相應(yīng)的分解化合氣體成份、含量以及產(chǎn)生速率等也有差異。因此,可以通過檢測GIS設(shè)備SFs氣體不同分解組分含量與變化趨勢來診斷其內(nèi)部絕緣缺陷的情況。

 

對SF6放電分解氣體的檢測主要有以下四種方法:氣相色譜法、離子色譜法、紅外吸收光譜法以及檢測管法。氣相色譜法是利用不同物質(zhì)在兩相中具有不同的分配系數(shù),當(dāng)兩相作相對運動時,這些物質(zhì)在兩相中進行多次反復(fù)分配而實現(xiàn)分離,它可以對空氣、H20, SOF2,SO2F2, SO2和CF4進行檢測,檢測精度能夠達到ppm級,但它存在取樣和分析過程中可能混入水分導(dǎo)致一些組分水解、對SO2F2和SO2的檢測比較困難、不能檢測HF和局部放電主要成分之一的SOF4、檢測時間長等缺點;離子色譜法利用物質(zhì)在離子交換柱上遷移的差異而分離物質(zhì),輔以電化學(xué)或光學(xué)檢測器實現(xiàn)檢測,屬于液相色譜,可以用于檢測SOF2, SO2F2,SO2,SF4,HF,但由于對檢測設(shè)備和檢測環(huán)境的要求較高,國內(nèi)外很少使用這種方法檢測SF6放電分解氣體組分;紅外吸收光譜法利用一束紅外光穿過樣品氣體時,由于樣品氣體對紅外光的吸收,紅外光的吸收量與該氣體濃度之間呈線性關(guān)系實現(xiàn)不同物質(zhì)的檢測,可以檢測到ppm級的SOF2,SO2F2,SO2,SF4, SOF4. H20和CF4,但SF6氣體會影響其它氣體的吸收峰,必須使用標(biāo)準(zhǔn)氣體獲得的參考圖譜對分析結(jié)果進行校正,而有些標(biāo)準(zhǔn)氣體,如化學(xué)性質(zhì)很不穩(wěn)定的SOF4等,標(biāo)氣難以獲取,因此紅外吸收光譜法難以實現(xiàn)準(zhǔn)確的定量檢測;檢測管法是根據(jù)化合物與檢測管里的指示劑顏色變化深淺來定量,目前國內(nèi)主要有HF,SO2的檢測管,雖然具有現(xiàn)場使用簡便、快速和便于攜帶的優(yōu)點,但易受到溫度、濕度和存放時間的影響檢測,并且測量組分比較單一,不能反映整體概況,使用有一定的局限性。這四種方法都是IEC60480標(biāo)準(zhǔn)和GB/T8905國家標(biāo)準(zhǔn)所推薦的檢測方法,但由于SF6分解氣體的成份復(fù)雜、含量小、種類多、穩(wěn)定性差,加之GIS氣室中的吸附劑和干燥劑以及斷路器動作時產(chǎn)生的電弧可能會影響SF6分解氣體測量的精度,因此無論是標(biāo)準(zhǔn)或國家標(biāo)準(zhǔn),對SF6設(shè)備分解氣體含量與絕緣缺陷狀況之間的關(guān)系,還缺乏像變壓器油色譜那樣完善和有效的原理、方法及判斷標(biāo)準(zhǔn)。

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